HAST试验箱非饱和度老化试验机

HAST试验箱非饱和度老化试验机（Highly Accelerated Stress Test，高度加速寿命试验箱）是一种用于评估电子元器件、半导体器件、塑料封装等在高温、高湿、高压条件下的可靠性的试验设备。它通过模拟环境条件来加速产品的老化过程，从而在较短的时间内预测产品在正常使用条件下的寿命和可靠性。

非饱和度老化试验：
非饱和度老化试验是指在非饱和湿度（通常为65%～100%RH可调）的条件下进行的老化试验。这种试验主要用于检测产品或材料在高温高湿环境下的可靠性，特别是在半导体封装的抗湿气能力方面。在这种试验中，湿气可能会沿着封装材料的接口渗入，导致封装体内部的故障，如爆米花效应、金属化区域腐蚀造成的断路、封装体引脚间因污染造成的短路等。

非饱和度老化试验机的特点：

温度控制：能够提供高温环境，通常为130℃。
湿度控制：可以在非饱和湿度条件下调节湿度，模拟不同的湿度环境。
压力控制：能够提供高达3 atm（230KPa）的大气压力，加速湿气渗透。
测试时间：通常进行96小时的测试时间，以评估产品的长期稳定性。
数据记录：试验数据可以导出为Excel格式，并通过USB接口进行传输，便于分析。
安全保护：具备多重保护功能，如高温保护、湿度用水断水保护、电热断水空焚保护等。
HAST试验箱非饱和度老化试验机的应用范围：

半导体器件的封装测试
电子元器件的可靠性评估
塑料封装材料的耐湿性能测试
汽车电子、航空航天、医疗设备等行业的产品环境适应性测试
安装环境：

需要有足够的空间来安置试验箱，并留有适当的操作和维护空间。
应有稳定的电力供应，以支持试验箱的运行。
应避免直接阳光照射、湿度过高或过低、以及温度波动大的环境。
地面需要有足够的承重能力，以支撑试验箱的重量。

HAST非饱和度老化试验机满足标准

1. GB/T10586-1989湿热试验箱技术条件。

2. GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验。

3. MIL-STD810D方法502.2。

4. GJB150.9-8温湿试验。

5. GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验。

6. LEC60068-2-66试验。

7. JESD22-A102-B试验。

8. GB/T2423.40-1997试验。

HAST非饱和度老化试验机注意事项:

1. 在无试验负荷、无层架情况下稳定30分钟后测定的性能。

2. 关于温度上升及下降时间是指风冷式在周围环境温度为26℃±5℃,时所测量的性能。

3. 温湿度传感器设置于空调箱出风口处。

4. 温湿度均匀度定义为：实验室几何中心点处，温湿度时的所测之资料。

5. 以上数据性能，测量，计算方法参照GB5170.2、GB5170.5的方法测定。